Сканирующие микроскопы бывают разного типа, в зависимости от того, какие задачи они должны выполнять. Это особый тип оптики, который используется в науке и промышленности, в медицине и клинических исследованиях. Ниже описаны основные типы сканирующих микроскопов.
Сканирующий микроскоп туннельного типа
STM-микроскоп — одна из популярных и востребованных разновидностей сканирующих микроскопов. С помощью приборов такого типа осуществляется исследование рельефа поверхностей образцов. Работа осуществляется в несколько этапов:
- на расстоянии 0,1 нм подводится игла;
- на иглу подается потенциал, что приводит к образованию туннельного тока;
- стабильность тока поддерживается во время движения иглы.
В современных моделях все результаты исследования фиксируются в процессе исследования.
Сканирующий атомно-силовой микроскоп
AFM-микроскоп — изобретение Герда Биннинга и группы швейцарских ученых. Это сравнительно новая разработка, которая создана на основе туннельного микроскопа. Ученые представили миру своё изобретение в 1982 году, с тех пор оно нашло широкое применение в различных сферах науки и промышленности. Этот тип устройства позволяет исследовать рельеф поверхности с высоким разрешением, даже на атомарном уровне. У приборов такого типа есть преимущества перед туннельными микроскопами – с их помощью можно исследовать непроводящие и проводящие поверхности.
Сканирующие зондовые микроскопы
SPM-микроскопы – отдельный класс приборов такого типа. Зондовые микроскопы созданы для исследования увеличенных изображений образцов и их характеристик. Большинство современных микроскопов позволяют получать объемные, трехмерные изображения.
Первые микроскопы зондового типа были выпущены в 1981 году. Создатели этого класса микроскопов удостоились нобелевской премии за своё изобретение в 1986 году. Вот что отличает зондовые микроскопы от других моделей:
- они оснащены зондом;
- дополнительно устанавливается система, осуществляющая движение зонда относительно исследуемых образцов;
- в микроскопах зондового типа присутствует регистрирующая система.
В процессе исследования система производит регистрацию данных – фиксирует значения, в зависимости от расстояния от образца до зонда.
Растровые электронные микроскопы
СЭМ или РЭМ – микроскопы сканирующего типа с электронным механизмом и удобной системой управления. Благодаря приборам такого типа появилась возможность исследования поверхности объектов с максимальным пространственным разрешением. Принцип действия электронных сканирующих микроскопов существенно отличается. Изображение формируется в результате взаимодействия поверхности исследуемого образца с электронным пучком. В большинстве современных электронных сканирующих микроскопов устанавливается максимально мощная оптика.
Ближнепольные сканирующие микроскопы
БОМ — сканирующие ближнепольные оптические микроскопы, которые используются в тех сферах, где важно высокое разрешение. Ближнепольные сканирующие модели работают по принципу оптических микроскопов, но они дают более качественное и точное изображение. Ближнепольные микроскопы дают возможность наблюдать поверхность объекта с разрешением ниже дифракционного.
Сканирующие ёмкостные микроскопы (SCM)
Тип устройств, разработанных для инженерии и контроля производственных процессов. Это микроскопы используются для осуществления контроля и оценки полупроводниковых устройств в сочетании с другими типами микроскопов.
Сканирующие микроскопы – класс устройств, созданных для исследования поверхности образцов. Современные модели обладают расширенными возможностями, главное, правильно подобрать устройство для надежной работы.
По материалам: https://arstek.ru/
